據英國《自然·通訊》雜志3日發表的一篇醫學研究論文，中美科學家對一種名為“NanoVelcro”的芯片進行了大幅優化，新芯片包含很細的硅納米線，可針對胎盤植入譜系(PAS)疾病進行無創早期診斷，這種疾病會導致孕產婦在分娩中死亡。

胎盤植入譜系疾病包括侵入性胎盤、植入性胎盤、穿透性胎盤，具體是指妊娠期間胎盤過度侵入子宮肌層，且在分娩時無法脫落。這會造成嚴重出血，甚至有時會導致孕產婦死亡。目前診斷該疾病的方法雖然也很有效，但有時依然會出現不夠準確的情況，抑或是在資源匱乏的地區難以實現。

此次，包括美國加州大學洛杉磯分校、中國深圳人民醫院等機構研究人員在內的團隊，對之前開發的“NanoVelcro”芯片進行了優化，新芯片包含很細的硅納米線，外部涂有能檢測循環滋養層細胞(組成胎盤的細胞)的抗體。這些細胞會在胎盤發育過程中單個或聚集脫落到母體血液循環中，細胞數量的增加可能提示胎盤植入譜系疾病。

研究團隊對168位孕婦進行了血檢，有些孕婦被診斷出患有胎盤植入譜系疾病，有些被診斷為胎盤前置(胎盤覆蓋宮頸內口)，有些胎盤形成正常。團隊發現，PAS組的單個和聚集循環滋養層細胞計數比其他兩個組更高。同時，研究還發現，單個和聚集循環滋養層細胞的數量，有助于在妊娠早期將PAS從前置胎盤和正常胎盤中區分出來。

研究人員指出，現在需利用更大樣本開展進一步研究。胎盤植入譜系疾病會導致孕產婦在分娩中出現非常嚴重的狀況，而這種新的診斷技術則有望在不久的將來補充現有技術，提高妊娠早期診斷胎盤植入譜系疾病的準確性。